Souza EP, Fachi LR, Santos PRJ, Savelli RA, Nied AH. Yield and validation of the scanner for use in the estimation of number of sunflower grains. Sci. Electronic Arch [Internet]. 13º de novembro de 2018 [citado 25º de abril de 2024];11(6):37-43. Disponível em: https://sea.ufr.edu.br/SEA/article/view/602